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国家标准计划《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)阈值电压测量指南》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院中国电子科技集团公司第十三研究所深圳市美浦森半导体有限公司中国电子科技集团公司第五十五研究所济南晶恒电子有限责任公司陕西亚成微电子股份有限公司

目录

项目进度

当前标准计划

20263331-T-339 正在起草

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)阈值电压测量指南

基础信息

计划号
20263331-T-339
制修订
制定
项目周期
12个月
下达日期
2026-06-27
标准类别
方法
国际标准分类号
31.080.30
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.30 三极管
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 63505:2025。

采标中文名称:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管阈值电压测量指南。

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