国家标准计划《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第5部分:高压高温高湿反偏》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC1(全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 忱芯科技(上海)有限公司 、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟 、工业和信息化部电子第五研究所 、广电计量检测集团股份有限公司 、北京怀柔实验室 、深圳平湖实验室 、东南大学 、安徽长飞先进半导体股份有限公司 、武汉山拓微电子有限公司 、广东芯聚能半导体有限公司 、合肥功立德半导体科技有限公司 、浙江大学 、西安交通大学 、湖北九峰山实验室 、中国电子科技集团公司第五十五研究所 、江苏宏微科技股份有限公司 、清纯半导体(宁波)有限公司 、中国长江三峡集团有限公司 、广东工业大学 、深圳市大能创智半导体有限公司 、泰科天润半导体科技(北京)有限公司 。
主要起草人 毛赛君 、王鑫 、徐新兵 、高伟 、陈媛 、李汝冠 、陈中圆 、周紫薇 、刘斯扬 、陆月明 、邓云峰 、张晓松 、孙钦华 、王珩宇 、王来利 、吴畅 、张国斌 、吴云 、孙博韬 、贾娜 、贺致远 、谢斌 、胡惠娜 。
20260735-T-339 正在征求意见
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.30 三极管 |