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国家标准计划《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第1部分:功率循环》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC1(全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟 、安徽长飞先进半导体股份有限公司 、广东工业大学 、国芯微电子(广东)有限公司 、中国电子科技集团公司第五十五研究所 、比亚迪半导体股份有限公司 、江苏宏微科技股份有限公司 、广东芯聚能半导体有限公司 、忱芯科技(上海)有限公司 、清纯半导体(宁波)有限公司 、东南大学 、深圳平湖实验室 、泰科天润半导体科技(北京)有限公司 、浙江大学绍兴研究院 、浙江大学 、东莞南方半导体科技有限公司 、深圳市禾望电气股份有限公司 、西安交通大学 、浙江翠展微电子有限公司 、广东力德诺电子科技有限公司 。

主要起草人 陈媛 、施宜军 、陈兴欢 、何亮 、高伟 、陆月明 、贺致远 、来萍 、路国光 、陈义强 、成年斌 、张国斌 、吴海平 、王群 、张晓松 、毛赛君 、雷光寅 、孙伟峰 、罗曦溪 、胡惠娜 、林氦 、郭清 、乔良 、张刚 、王来利 、吴瑞 、陈积干 。

目录

项目进度

当前标准计划

20260715-T-339 正在批准

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第1部分:功率循环

基础信息

计划号
20260715-T-339
制修订
制定
项目周期
6个月
下达日期
2026-01-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

陈媛
施宜军
高伟
陆月明
路国光
陈义强
吴海平
王群
雷光寅
孙伟峰
林氦
郭清
王来利
吴瑞
陈兴欢
何亮
贺致远
来萍
成年斌
张国斌
张晓松
毛赛君
罗曦溪
胡惠娜
乔良
张刚
陈积干

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