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国家标准计划《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第1部分:功率循环》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC1(全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所北京第三代半导体产业技术创新战略联盟安徽长飞先进半导体股份有限公司广东工业大学国芯微电子(广东)有限公司中国电子科技集团公司第五十五研究所比亚迪半导体股份有限公司江苏宏微科技股份有限公司广东芯聚能半导体有限公司忱芯科技(上海)有限公司清纯半导体(宁波)有限公司东南大学深圳平湖实验室泰科天润半导体科技(北京)有限公司浙江大学绍兴研究院浙江大学东莞南方半导体科技有限公司深圳市禾望电气股份有限公司西安交通大学浙江翠展微电子有限公司广东力德诺电子科技有限公司

主要起草人 陈媛施宜军陈兴欢何亮高伟陆月明贺致远来萍路国光陈义强成年斌张国斌吴海平王群张晓松毛赛君雷光寅孙伟峰罗曦溪胡惠娜林氦郭清乔良张刚王来利吴瑞陈积干

目录

项目进度

当前标准计划

20260715-T-339 正在征求意见

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第1部分:功率循环

征求意见稿

基础信息

计划号
20260715-T-339
制修订
制定
项目周期
6个月
标准类别
方法
国际标准分类号
31.080
31 电子学
31.080 半导体分立器件
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

陈媛
施宜军
高伟
陆月明
路国光
陈义强
吴海平
王群
雷光寅
孙伟峰
林氦
郭清
王来利
吴瑞
陈兴欢
何亮
贺致远
来萍
成年斌
张国斌
张晓松
毛赛君
罗曦溪
胡惠娜
乔良
张刚
陈积干

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