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国家标准计划《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)测试方法 第1部分:开关动态参数》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC1(全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 重庆大学国网江苏省电力有限公司北京第三代半导体产业技术创新战略联盟华润微电子有限公司北京华峰测控技术股份有限公司广电计量检测集团股份有限公司工业和信息化部电子第五研究所是德科技(中国)有限公司合肥功立德半导体科技有限公司东南大学西安交通大学中国工程物理研究院国网江苏省电力有限公司经济技术研究院南方电网科学研究院有限责任公司南方电网电力科技股份有限公司深圳麦科信科技有限公司深圳市禾望电气股份有限公司国网重庆市电力公司电力科学研究院甬江实验室浙江大学绍兴研究院杭州飞仕得科技股份有限公司深圳市汇川技术股份有限公司深圳平湖实验室中国电力科学研究院有限公司北京怀柔实验室一汽旗新动力(长春)科技有限公司浙江翠展微电子有限公司安徽长飞先进半导体股份有限公司江苏宏微科技股份有限公司九峰山实验室复旦大学宁波研究院

主要起草人 曾正孙鹏孙文涛潘效飞牛富丽高伟袁伟张文嘉刘惠鹏李汝冠陈媛孙承志孙钦华魏家行王来利李俊焘杨剑波杨伟涛熊岩张兴杰谢峰蒋雪峰郑晟林氦刘伟吴桢生陈刚陈国富张文婷宋鑫宇吴瑞姜新武王天赐袁俊左元慧

目录

项目进度

当前标准计划

20260727-T-339 正在征求意见

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)测试方法 第1部分:开关动态参数

征求意见稿

基础信息

计划号
20260727-T-339
制修订
制定
项目周期
6个月
标准类别
方法
国际标准分类号
31.080.30
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.30 三极管
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

曾正
孙鹏
牛富丽
高伟
刘惠鹏
李汝冠
孙钦华
魏家行
杨剑波
杨伟涛
谢峰
蒋雪峰
刘伟
吴桢生
张文婷
宋鑫宇
王天赐
袁俊
孙文涛
潘效飞
袁伟
张文嘉
陈媛
孙承志
王来利
李俊焘
熊岩
张兴杰
郑晟
林氦
陈刚
陈国富
吴瑞
姜新武
左元慧

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