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国家标准《半导体器件机械和气候试验方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 上海市电子仪表计量测试所

目录

标准状态

代替了以下标准

GB 4937-1985 (全部代替)

当前标准

GB/T 4937-1995 废止

半导体器件机械和气候试验方法
被以下标准替代

GB/T 4937.1-2006 (部分代替)

半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

GB/T 4937.2-2006 (部分代替)

半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

基础信息

标准号
GB/T 4937-1995
发布日期
1995-12-22
实施日期
1996-08-01
废止日期
2007-02-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080
31 电子学
31.080 半导体分立器件
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 749:1995。

采标中文名称:。

起草单位

相近标准(计划)