国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。
主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、深圳华海达科技有限公司 、广州市爱浦电子科技有限公司 、广东力德诺电子科技有限公司 、苏州海光芯创光电科技股份有限公司 、东莞市科佳电路有限公司 、江西鸿利光电有限公司 。
主要起草人 王琪 、谢宝琳 、王爽 、薛涛 、梁旦新 、胡朝阳 、廖发盆 、李义园 。
20201540-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-10:2022。
采标中文名称:半导体器件-机械和气候试验方法-第10部分:机械冲击。