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国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院江苏韩电电器有限公司苏州海光芯创光电科技股份有限公司阿母芯微电子技术(中山)有限公司青岛金汇源电子有限公司

主要起草人 罗晓羽孙明甘鑫涛胡朝阳薛冬英程文娟

目录

项目进度

当前标准计划

20193134-T-339 正在批准

半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封

基础信息

计划号
20193134-T-339
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2019-10-24
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

罗晓羽
孙明
薛冬英
程文娟
甘鑫涛
胡朝阳

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-8:2002。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封。

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