国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则》
由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口
,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
。
主要起草人
陈海蓉
、崔波
。
标准状态
当前标准
GB/T 4937.1-2006
现行
半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
基础信息
- 标准号
- GB/T 4937.1-2006
- 发布日期
- 2006-08-23
- 实施日期
-
2007-02-01
- 上次复审日期
-
2023-12-28
- 上次复审结论
-
继续有效
- 部分代替标准
-
GB/T 4937-1995,
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
-
31.080.01
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-1:2002。
采标中文名称:。
起草单位
起草人
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