国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、天津大学 、西安电子科技大学 、大连理工大学 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 、北京遥感设备研究所 、中国工程物理研究院电子工程研究所 、中电科第三代半导体科技有限公司 、河北新华北集成电路有限公司 、厦门锐信图芯科技有限公司 、浙江翠展微电子有限公司 、西安西测测试技术股份有限公司 。
主要起草人 迟雷 、焦龙飞 、彭浩 、吴小帅 、安伟 、桂明洋 、丁红兵 、张文华 、陈龙坡 、司子恒 、刘涛 、王宇涛 、张可 、晋李华 、周晓黎 、高金环 、马超 、党伟东 、黄火林 、戴瀛 、虞勇坚 、王超 、孙宏军 、闫彦萍 、沈彤茜 、王欢欢 、张志军 、王冲 、郑雪峰 、吕栋 、李纪华 、白文斌 、陈浩祥 、谷亚敏 、刘鑫 、刘芳 、袁玉涛 、邢少宁 、肖秀陈 、李科穆 、王佳宁 、丁理想 、崔朝探 、石峰 、吴瑞 、单培哲 。
GB/T 4937.12-2018 (全部代替)
20256210-T-339 正在征求意见
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC60749-12:2017。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动。