国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司 、中国工程物理研究院核物理与化学研究所 、中国工程物理研究院电子工程研究所 、中国科学院新疆理化技术研究所 、工业和信息化部电子第五研究所 、大连理工大学 、西安空间无线电技术研究所 、武汉格物芯科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北新华北集成电路有限公司 、中电科第三代半导体科技有限公司 。

主要起草人 高东阳 、邹德慧 、席善斌 、郑春 、张战刚 、许献国 、韩宝妮 、李豫东 、刘涵颖 、黄火林 、夏欣 、何黎 、孟德超 、张丹 、尹丽晶 、杨振宝 、张欢 、陈政 、焦雪龙 、岳爽 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-17:2019。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照。