国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、工业和信息化部电子第五研究所 。
GB/T 4937.17-2018 (全部代替)
20256207-T-339 正在起草
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-17:2019。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照。