国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 拟实施日期：发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、中国科学院微电子研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 。

主要起草人 王琪 、李博 、高见头 、张娜 、马睿彤 、席善斌 、虞勇坚 、尹丽晶 、吕栋 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-9:2017。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性。