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国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位 北京大学中机生产力促进中心有限公司中国电子技术标准化研究院北京燕东微电子科技有限公司厦门市智慧健康研究院有限公司宁波瑞成包装材料有限公司四川富生电器有限责任公司深圳市美思先端电子有限公司无锡韦感半导体有限公司广州奥松电子股份有限公司江门市润宇传感器科技有限公司

主要起草人 张大成杨芳李根梓顾枫刘鹏李凤阳王旭峰高程武陈艺于志恒华璇卿刘若冰张彦秀王清娜邵峥李强宏宇赵成龙张宾李海全

目录

项目进度

当前标准计划

20204973-T-469 已发布

微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法

基础信息

计划号
20204973-T-469
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2020-12-24
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

张大成
杨芳
刘鹏
李凤阳
陈艺
于志恒
张彦秀
王清娜
宏宇
赵成龙
李根梓
顾枫
王旭峰
高程武
华璇卿
刘若冰
邵峥
李强
张宾
李海全

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