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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 北京大学中机生产力促进中心有限公司中国电子技术标准化研究院北京燕东微电子科技有限公司宁波芯健半导体有限公司深圳市美思先端电子有限公司上海临港新片区跨境数据科技有限公司广州奥松电子股份有限公司

主要起草人 张大成杨芳李根梓顾枫刘鹏王旭峰李凤阳高程武于志恒陈艺华璇卿刘若冰张彦秀罗书明武斌张启心张宾

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42896-2023 现行

微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法

基础信息

标准号
GB/T 42896-2023
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

张大成
杨芳
刘鹏
王旭峰
于志恒
陈艺
张彦秀
罗书明
张宾
李根梓
顾枫
李凤阳
高程武
华璇卿
刘若冰
武斌
张启心

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