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国家标准化指导性技术文件登记项目《微机电系统(MEMS)技术 扫描镜光学可靠性试验方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 深圳市速腾聚创科技有限公司中机研标准技术研究院(北京)有限公司西安知微传感技术有限公司上海麦锴科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所北京华创晨晶电子有限公司北京智芯微电子科技有限公司中国科学院微电子研究所清华大学南昌大学哈尔滨芯明天科技有限公司中国科学院国家空间科学中心无锡华润上华科技有限公司北京智芯传感科技有限公司北京大学南昌创新研究院中国航天时代电子有限公司安徽北方微电子研究院集团有限公司芯联集成电路制造股份有限公司

主要起草人 杨旸李根梓陈曦玥李帆雅宋秀敏王栎皓黄鑫龙汤一方东明周维虎要彦清赵晓光董显山夏长锋高超陈峰马英起夏长奉陈得民薄凡钱磊罗传鹏

目录

项目进度

当前登记项目

20254928-Z-469 正在批准

微机电系统(MEMS)技术 扫描镜光学可靠性试验方法

基础信息

登记号
20254928-Z-469
制修订
制定
项目周期
12个月
登记日期
2025-08-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

杨旸
李根梓
宋秀敏
王栎皓
方东明
周维虎
董显山
夏长锋
马英起
夏长奉
钱磊
罗传鹏
陈曦玥
李帆雅
黄鑫龙
汤一
要彦清
赵晓光
高超
陈峰
陈得民
薄凡

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