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国家标准计划《半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 河北美泰电子科技有限公司中国电科产业基础研究院

主要起草人 梁彦青罗蓉姚世婷周明琴刘聪聪杨拥军吝海锋

目录

项目进度

当前标准计划

20204111-T-339 正在审查

半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片

基础信息

计划号
20204111-T-339
制修订
制定
项目周期
12个月
下达日期
2020-11-19
标准类别
产品
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

梁彦青
罗蓉
刘聪聪
杨拥军
姚世婷
周明琴
吝海锋

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC62047-3:2006。

采标中文名称:半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片。

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