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国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司吉林江机特种工业有限公司深圳创智芯联科技股份有限公司深圳市威兆半导体股份有限公司深圳市安信达存储技术有限公司江苏长晶科技股份有限公司中科亿海微电子科技(苏州)有限公司深圳市永迦电子科技有限公司深圳市晶存科技股份有限公司明光瑞智电子科技有限公司广东阿达半导体设备股份有限公司广州盛中电子有限公司深圳市微容电子元器件有限公司广东金昇智能数控有限公司先之科半导体科技(东莞)有限公司

主要起草人 高若源李延林孙哲胡松祥周振华王伟尹丽晶姚玉李伟聪席善斌李修录杨国江魏育成韩买兴邢普润文建伟蒋鸿斌关晓鸣徐兴华刘杰叶树华范国荣巫宏军骆宗友

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 4937.201-2018 (全部代替)

半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
当前标准计划

20231896-T-339 正在批准

半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

基础信息

计划号
20231896-T-339
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

高若源
李延林
周振华
王伟
李伟聪
席善斌
魏育成
韩买兴
蒋鸿斌
关晓鸣
叶树华
范国荣
孙哲
胡松祥
尹丽晶
姚玉
李修录
杨国江
邢普润
文建伟
徐兴华
刘杰
巫宏军
骆宗友

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-20-1:2019。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输。

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