国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司 、吉林江机特种工业有限公司 、深圳创智芯联科技股份有限公司 、深圳市威兆半导体股份有限公司 、深圳市安信达存储技术有限公司 、江苏长晶科技股份有限公司 、中科亿海微电子科技(苏州)有限公司 、深圳市永迦电子科技有限公司 、深圳市晶存科技股份有限公司 、明光瑞智电子科技有限公司 、广东阿达半导体设备股份有限公司 、广州盛中电子有限公司 、深圳市微容电子元器件有限公司 、广东金昇智能数控有限公司 、先之科半导体科技(东莞)有限公司 。
主要起草人 高若源 、李延林 、孙哲 、胡松祥 、周振华 、王伟 、尹丽晶 、姚玉 、李伟聪 、席善斌 、李修录 、杨国江 、魏育成 、韩买兴 、邢普润 、文建伟 、蒋鸿斌 、关晓鸣 、徐兴华 、刘杰 、叶树华 、范国荣 、巫宏军 、骆宗友 。
GB/T 4937.201-2018 (全部代替)
20231896-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-20-1:2019。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输。