国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 、之江实验室 、南京奥马微波光电产品检测中心有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 。
20262784-T-339 正在起草
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-5:2023。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验。