国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、航天科工防御技术研究试验中心 、河北博威集成电路有限公司 、西安空间无线电技术研究所 、上海复旦微电子集团股份有限公司 、中国振华集团永光电子有限公司 、北京遥感设备研究所 、安建科技（深圳）有限公司 、山东芯赛思电子科技有限公司 、青岛中微创芯电子有限公司 、中国振华集团云科电子有限公司 、中国工程物理研究院电子工程研究所 、中电科第三代半导体科技有限公司 、河北新华北集成电路有限公司 、贵州振华风光半导体股份有限公司 、西安西测测试技术股份有限公司 、扬州杰利半导体有限公司 、浙江翠展微电子有限公司 、成都赛迪育宏检测技术有限公司 、华测蔚思博检测技术(上海)有限公司 、甬江实验室 、上海微谱检测科技集团股份有限公司 、浙江华辰芯光技术有限公司 。

主要起草人 高蕾 、席善斌 、胡松祥 、尹丽晶 、柳华光 、张欢 、杨振宝 、褚昆 、冯慧 、王鹏 、何婷 、王硕 、张魁 、李斌 、于长江 、何静 、郭绪浩 、党伍 、冯浩 、齐敏 、孔亮 、彭昌文 、赵伟 、葛战 、王佳宁 、曲韩宾 、夏自金 、高博 、苏昱太 、王毅 、吴瑞 、秦国林 、张鑫 、宓晓宇 、侯小刚 、韩尧 、童雨 、郭霖 、方翔 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-4:2017。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）。