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国家标准《氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所苏州纳维科技有限公司

主要起草人 曾雄辉张燚董晓鸣牛牧童刘争晖邱永鑫王建峰徐科

目录

标准状态

当前标准

GB/T 32282-2015 现行

氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

基础信息

标准号
GB/T 32282-2015
发布日期
2015-12-10
实施日期
2016-11-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

曾雄辉
张燚
刘争晖
邱永鑫
董晓鸣
牛牧童
王建峰
徐科

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