国家标准计划《锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法》由 TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十一研究所 、中国电子技术标准化研究院 、中航凯迈红外科技有限公司 。
GB/T 11297.6-1989 （全部代替）
20252259-T-469 正在起草
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