国家标准 - 全国标准信息公共服务平台

国家标准《砷化镓单晶位错密度的测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位北京有色金属研究总院。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 8760-1988 废止

砷化镓单晶位错密度的测量方法

被以下标准替代

GB/T 8760-2006 （全部代替）

砷化镓单晶位错密度的测量方法

基础信息

标准号: GB/T 8760-1988
发布日期: 1988-02-25
实施日期: 1989-02-01
废止日期: 2006-12-31

标准类别

方法

中国标准分类号

H24

国际标准分类号

77.040.30

77 冶金

77.040 金属材料试验

77.040.30 金属材料化学分析

归口单位

中国有色金属工业协会

执行单位

中国有色金属工业协会

主管部门

中国有色金属工业协会

起草单位

北京有色金属研究总院

相近标准(计划)

SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法

20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法

GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法

SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法

GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法

GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

版权所有侵权必究
主管：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
技术支持：北京中标赛宇科技有限公司
支持电话：010-82261036
备案号：京ICP备18022388号-1