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国家标准《半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料拉伸试验方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 河北美泰电子科技有限公司中国电科产业基础研究院

主要起草人 梁彦青罗蓉姚世婷周明琴刘聪聪杨拥军吝海锋

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42709.2-2026 即将实施

半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料拉伸试验方法

基础信息

标准号
GB/T 42709.2-2026
发布日期
2026-04-30
实施日期
2026-11-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-2:2006。

采标中文名称:半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料的拉伸试验方法。

起草单位

起草人

梁彦青
罗蓉
刘聪聪
杨拥军
姚世婷
周明琴
吝海锋

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