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国家标准《金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院半导体研究所德州学院成都中科米格检测技术有限公司中国石油集团工程材料研究院有限公司河南碳真芯材科技有限公司吉林大学安徽光智科技有限公司山东大学嘉兴沃尔德金刚石工具有限公司北京大学东莞光电研究院浙江先导微电子科技有限公司北京特思迪半导体设备有限公司宁波晶钻科技股份有限公司河南省惠丰金刚石有限公司哈工大郑州研究院南京同溧晶体材料研究院有限公司湖北碳六科技有限公司南京瑞为新材料科技有限公司成都市玖展科技有限公司佳睿福钻石(河南)有限公司

主要起草人 霍晓迪曹繁秋郑红军王希玮闫方亮王少龙屈鹏霏王镇金鹏李红东朱嘉琦欧琳芳陈继锋王琦于金凤蒋继乐张娟涛张军安王志强李一村李东振吕继磊徐良伟黄亮冯参军赵继文

目录

标准状态

当前标准

GB/T 47080-2026 即将实施

金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法

基础信息

标准号
GB/T 47080-2026
发布日期
2026-01-28
实施日期
2026-08-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

霍晓迪
曹繁秋
闫方亮
王少龙
金鹏
李红东
陈继锋
王琦
张娟涛
张军安
李东振
吕继磊
冯参军
赵继文
郑红军
王希玮
屈鹏霏
王镇
朱嘉琦
欧琳芳
于金凤
蒋继乐
王志强
李一村
徐良伟
黄亮

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