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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 北京自动化控制设备研究所安徽奥飞声学科技有限公司芯联集成电路制造股份有限公司中机生产力促进中心有限公司苏州大学华润上华科技有限公司太原航空仪表有限公司中国航天科工飞航技术研究院山东中康国创先进印染技术研究院有限公司深圳市美思先端电子有限公司北京遥测技术研究所西安交通大学北京晨晶电子有限公司上海新微技术研发中心有限公司天津新智感知科技有限公司上海芯物科技有限公司天津大学北京大学河北初光汽车部件有限公司共达电声股份有限公司河南芯睿电子科技有限公司广东润宇传感器股份有限公司华景传感科技(无锡)有限公司

主要起草人 王永胜张红宇安志武李根梓张菁华孙立宁苏翼张新伟李拉兔刘会聪邢文忠徐堃毛志平路文一单伟中许克宇王志广汤一要彦清娄亮郑冬琛陈得民姚鹏胡晓东卢弈鹏袁长作仲胜利侯杰陈福操李树成王志宏

目录

标准状态

当前标准

GB/T 44515-2024 即将实施

微机电系统(MEMS)技术 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法

基础信息

标准号
GB/T 44515-2024
发布日期
2024-09-29
实施日期
2025-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-30:2017。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第30部分:MEMS压电薄膜机电转换特性的测量方法。

起草单位

起草人

王永胜
张红宇
张菁华
孙立宁
李拉兔
刘会聪
毛志平
路文一
王志广
汤一
郑冬琛
陈得民
卢弈鹏
袁长作
陈福操
李树成
安志武
李根梓
苏翼
张新伟
邢文忠
徐堃
单伟中
许克宇
要彦清
娄亮
姚鹏
胡晓东
仲胜利
侯杰
王志宏

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