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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

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主要起草人 陈立国江大白李根梓刘会聪蒋礼平刘胜方东明夏长奉王冰周维虎许宙钟鸣张硕孙旭辉夏燕娄亮程新利杨剑宏陈志文张中飞胡增商艳龙王阳俊高峰卢弈鹏袁长作仲胜利李海全钱勇国

目录

标准状态

当前标准

GB/T 44513-2024 即将实施

微机电系统(MEMS)技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法

基础信息

标准号
GB/T 44513-2024
发布日期
2024-09-29
实施日期
2025-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-37:2020。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第37部分:传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法。

起草单位

起草人

陈立国
江大白
蒋礼平
刘胜
王冰
周维虎
张硕
孙旭辉
程新利
杨剑宏
胡增
商艳龙
卢弈鹏
袁长作
钱勇国
李根梓
刘会聪
方东明
夏长奉
许宙
钟鸣
夏燕
娄亮
陈志文
张中飞
王阳俊
高峰
仲胜利
李海全

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