国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位 无锡小天鹅电器有限公司 、长虹美菱股份有限公司 、中机生产力促进中心有限公司 、宁波科联电子有限公司 、合肥华凌股份有限公司 、中北大学 、广州自平测控科技有限公司 、海信家电集团股份有限公司 、西北工业大学柔性电子研究院 、苏州大学 、苏州感闻安全科技有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、无锡华润上华科技有限公司 、成都航天凯特机电科技有限公司 、东南大学 、中国电力科学研究院有限公司 、北京大学 、四川长虹虹微科技有限公司 、美的集团(上海)有限公司 、无锡物联网创新中心有限公司 。
主要起草人 张革 、杨浩 、李根梓 、王雄伟 、余燕 、王俊强 、曲倩雯 、马卓标 、王科 、孙旭辉 、王春举 、冯军 、方东明 、夏长奉 、蒋礼平 、周再发 、梁先锋 、郑雨晴 、周刚 、钱峰 、董接莲 。
20242839-T-469 正在批准
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.99 其他半导体分立器件 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-43:2024。
采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第43部分:柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法。