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国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 无锡小天鹅电器有限公司长虹美菱股份有限公司中机生产力促进中心有限公司宁波科联电子有限公司合肥华凌股份有限公司中北大学广州自平测控科技有限公司海信家电集团股份有限公司西北工业大学柔性电子研究院苏州大学苏州感闻安全科技有限公司北京智芯微电子科技有限公司无锡华润上华科技有限公司成都航天凯特机电科技有限公司东南大学中国电力科学研究院有限公司北京大学四川长虹虹微科技有限公司美的集团(上海)有限公司无锡物联网创新中心有限公司

主要起草人 张革杨浩李根梓王雄伟余燕王俊强曲倩雯马卓标王科孙旭辉王春举冯军方东明夏长奉蒋礼平周再发梁先锋郑雨晴周刚钱峰董接莲

目录

项目进度

当前标准计划

20242839-T-469 正在批准

微机电系统(MEMS)技术 柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法

基础信息

计划号
20242839-T-469
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2024-09-29
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
副归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

张革
杨浩
余燕
王俊强
王科
孙旭辉
方东明
夏长奉
梁先锋
郑雨晴
董接莲
李根梓
王雄伟
曲倩雯
马卓标
王春举
冯军
蒋礼平
周再发
周刚
钱峰

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-43:2024。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第43部分:柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法。

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