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国家标准计划《硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 洛阳中硅高科技有限公司南京中锗科技股份有限公司上海新昇半导体科技有限公司唐山三孚电子材料有限公司新疆大全新能源股份有限公司陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 29056-2012 (全部代替)

硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法
当前标准计划

20240139-T-469 正在起草

硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

基础信息

计划号
20240139-T-469
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2024-03-25
标准类别
方法
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

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