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国家标准计划《硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 洛阳中硅高科技有限公司江苏鑫华半导体科技股份有限公司四川永祥新能源有限公司江苏中能硅业科技发展有限公司亚洲硅业(青海)股份有限公司青海南玻新能源科技有限公司青海丽豪清能股份有限公司新疆新特新能材料检测中心有限公司湖北江瀚新材料股份有限公司

主要起草人 万烨郭树虎刘见华曹俊英赵培芝吴作木宋丹王春明魏东亮李强冉祎康俊勤甘俊汤艳

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 29056-2012 (全部代替)

硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法
当前标准计划

20240139-T-469 已发布

硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

基础信息

计划号
20240139-T-469
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2024-03-25
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

万烨
郭树虎
赵培芝
吴作木
魏东亮
李强
甘俊
汤艳
刘见华
曹俊英
宋丹
王春明
冉祎
康俊勤

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