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国家标准计划《半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子技术标准化研究院天水七四九电子有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所合肥圣达电子科技实业有限公司河北中瓷电子科技股份有限公司江西芯诚微电子有限公司深圳市振华兴智能技术有限公司

主要起草人 范世超彭博郎平钟鑫王琪李习周帅喆黄志刚赵东亮肖国庆徐凯

目录

项目进度

当前标准计划

20231783-T-339 正在批准

半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法

基础信息

计划号
20231783-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

范世超
彭博
王琪
李习周
赵东亮
肖国庆
郎平
钟鑫
帅喆
黄志刚
徐凯

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60191-6-3:2000。

采标中文名称:半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法。

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