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国家标准计划《半导体器件的机械标准化 第6-21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形封装(SOP)尺寸测量方法》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子技术标准化研究院天水七四九电子有限公司

目录

项目进度

当前标准计划

20230650-T-339 正在起草

半导体器件的机械标准化 第6-21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形封装(SOP)尺寸测量方法

基础信息

计划号
20230650-T-339
制修订
制定
项目周期
12个月
下达日期
2023-08-06
标准类别
基础
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60191-6-21:2010。

采标中文名称:半导体器件的机械标准化 第6-21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形封装(SOP)尺寸测量方法。

投票情况

投票日期
2022-11-23~2022-12-04
通过率
80.00%

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