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国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所无锡中微腾芯电子有限公司工业和信息化部电子五所中国电子技术标准化研究院

目录

项目进度

当前标准计划

20231576-T-339 正在审查

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法

基础信息

计划号
20231576-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-01
标准类别
方法
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-41:2020。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法。

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