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国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院深圳华海达科技有限公司广州市爱浦电子科技有限公司广东力德诺电子科技有限公司苏州海光芯创光电科技股份有限公司东莞市科佳电路有限公司江西鸿利光电有限公司

主要起草人 王琪谢宝琳王爽薛涛梁旦新胡朝阳廖发盆李义园

目录

标准状态

当前标准

GB/T 4937.10-2025 即将实施

半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件

基础信息

标准号
GB/T 4937.10-2025
发布日期
2025-12-31
实施日期
2026-07-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-10:2022。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件。

起草单位

起草人

王琪
谢宝琳
梁旦新
胡朝阳
王爽
薛涛
廖发盆
李义园

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