国家标准计划《半导体器件的机械标准化 第6-19部分：高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国电子技术标准化研究院 、江苏长电科技股份有限公司 、天水七四九电子有限公司 。
20230649-T-339 正在征求意见
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60191-6-19:2010。
采标中文名称:半导体器件的机械标准化 第6-19部分：高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度。
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