注册

国家标准计划《半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所西安电子科技大学国防科技大学河北北芯半导体科技有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所

主要起草人 路国光章晓文林晓玲游海龙杨少华彭超肖庆中韦覃如来萍梁斌张魁赵文斌晋李华

目录

项目进度

当前标准计划

20213170-T-339 正在批准

半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验

基础信息

计划号
20213170-T-339
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2021-08-24
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

路国光
章晓文
杨少华
彭超
来萍
梁斌
晋李华
林晓玲
游海龙
肖庆中
韦覃如
张魁
赵文斌

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62416:2010。

采标中文名称:半导体器件 关于MOS晶体管的热载流子试验。

相近标准(计划)