国家标准计划《半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后3个月正式实施。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、西安电子科技大学 、国防科技大学 、河北北芯半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 。
主要起草人 路国光 、章晓文 、林晓玲 、游海龙 、杨少华 、彭超 、肖庆中 、韦覃如 、来萍 、梁斌 、张魁 、赵文斌 、晋李华 。
20213170-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62416:2010。
采标中文名称:半导体器件 关于MOS晶体管的热载流子试验。