国家标准计划《半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓(GaN)晶体管可靠性试验方法 》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、电子科技大学 、湖南大学 、杰华特微电子股份有限公司 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 63284:2022。

采标中文名称:半导体器件 基于感性负载开关的氮化镓晶体管可靠性试验方法。