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国家标准《半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所河北北芯半导体科技有限公司合肥华祯智能科技有限公司佛山市川东磁电股份有限公司厦门芯阳科技股份有限公司河北新华北集成电路有限公司工业和信息化部电子第五研究所上海维安半导体有限公司浙江朗德电子科技有限公司重庆平伟实业股份有限公司无锡新洁能股份有限公司江苏长晶科技股份有限公司河北赛美科技有限公司

主要起草人 赵海龙彭浩张魁张中席善斌黄志强黄杰刘东月冉红雷尹丽晶颜天宝裴选柳华光曲韩宾任怀龙高博章晓文苏海伟陈磊李述洲朱袁正杨国江李永安康金萌

目录

标准状态

当前标准

GB/T 46789-2025 即将实施

半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验

基础信息

标准号
GB/T 46789-2025
发布日期
2025-12-02
实施日期
2026-07-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62417:2010。

采标中文名称:半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验。

起草单位

起草人

赵海龙
彭浩
席善斌
黄志强
冉红雷
尹丽晶
柳华光
曲韩宾
章晓文
苏海伟
朱袁正
杨国江
张魁
张中
黄杰
刘东月
颜天宝
裴选
任怀龙
高博
陈磊
李述洲
李永安
康金萌

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