国家标准《半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、合肥华祯智能科技有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 、厦门芯阳科技股份有限公司 、河北新华北集成电路有限公司 、工业和信息化部电子第五研究所 、上海维安半导体有限公司 、浙江朗德电子科技有限公司 、重庆平伟实业股份有限公司 、无锡新洁能股份有限公司 、江苏长晶科技股份有限公司 、河北赛美科技有限公司 。
主要起草人 赵海龙 、彭浩 、张魁 、张中 、席善斌 、黄志强 、黄杰 、刘东月 、冉红雷 、尹丽晶 、颜天宝 、裴选 、柳华光 、曲韩宾 、任怀龙 、高博 、章晓文 、苏海伟 、陈磊 、李述洲 、朱袁正 、杨国江 、李永安 、康金萌 。
GB/T 46789-2025 即将实施
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62417:2010。
采标中文名称:半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验。