国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 拟实施日期：发布后3个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、广州毅昌科技股份有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、安徽钜芯半导体科技有限公司 、广州海关技术中心 、广州云检测科学研究院有限公司 、广东仁懋电子有限公司 。

主要起草人 高东阳 、魏兵 、陈汝文 、彭浩 、赵海龙 、裴选 、宋玉玺 、武利会 、曹孙根 、王英程 、吴福娣 、蓝春浩 、郭新峰 、仇亮 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-37:2008。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：使用加速度计进行板级跌落试验方法。