国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北工诺检测技术有限公司 、深圳市金泰克半导体有限公司 、合肥德宽信息技术有限责任公司 、广州海关技术中心 、安徽高芯众科半导体有限公司 、湖北华远检测技术有限公司 。

主要起草人 赵海龙 、聂丛伟 、李创锋 、彭浩 、高东阳 、张魁 、尹丽晶 、冉红雷 、王英程 、李敏 、顾小平 、黄伟 、辛长林 、宁仁祥 、唐力 、朱玉珂 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-40:2011。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法。