国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 。
主要起草人 包雷 、佘茜玮 、陈雷 、胡宁 、王瑞曾 、吴维丽 。
20141818-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC60749-25:2003。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环。