国家标准《碳化硅单晶片直径测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所 、中国电子技术标准化研究院 。
主要起草人 丁丽 、周智慧 、蔺娴 、郝建民等 。
GB/T 30866-2014 现行
20231113-T-469 正在征求意见