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国家标准计划《半导体晶片装载盒测试方法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 上海集成电路材料研究院有限公司苏州实验室有研半导体硅材料股份公司上海新昇半导体科技有限公司中国电子技术标准技术化研究院合光光掩模科技(安徽)有限公司

主要起草人 俞文杰徐文涛王磊冯天史泽远姚树歆黄梦可赵俊莎刘兵吴怡然周嬅李春华曹可慰

目录

项目进度

当前标准计划

20256847-T-469 正在征求意见

半导体晶片装载盒测试方法

征求意见稿

基础信息

计划号
20256847-T-469
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2025-12-31
标准类别
方法
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.030
31 电子学
31.030 电子技术专用材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

俞文杰
徐文涛
史泽远
姚树歆
刘兵
吴怡然
曹可慰
王磊
冯天
黄梦可
赵俊莎
周嬅
李春华

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