国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。
主要起草人 陈海蓉 、李丽霞 、崔波 。
GB/T 4937.3-2012 现行
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-3:2002。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检。
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