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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院空天信息创新研究院中机生产力促进中心有限公司北京京东方传感技术有限公司华东光电集成器件研究所中国科学院上海微系统与信息技术研究所北京智芯微电子科技有限公司东南大学中国航天时代电子有限公司中船九江精密测试技术研究所无锡华润上华科技有限公司上海新微技术研发中心有限公司安徽芯动联科微系统股份有限公司电子科技大学浙江大学中国电子科技集团公司第五十五研究所芯联集成电路制造股份有限公司昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司天津新智感知科技有限公司复远芯(上海)科技有限公司

主要起草人 王军波鲁毓岚李根梓车春城凤瑞魏秋旭谢波王鹏钟艳红李铁方东明陈德勇周再发陈婷李男男董桃云夏长奉吴炫烨展明浩张晓升董树荣朱健闾新明陈立国陈得民陈旭远

目录

标准状态

当前标准

GB/T 47768-2026 即将实施

微机电系统(MEMS)技术 玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法

基础信息

标准号
GB/T 47768-2026
发布日期
2026-07-02
实施日期
2027-02-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-27:2017。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第27部分:玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法。

起草单位

起草人

王军波
鲁毓岚
凤瑞
魏秋旭
钟艳红
李铁
周再发
陈婷
夏长奉
吴炫烨
董树荣
朱健
陈得民
陈旭远
李根梓
车春城
谢波
王鹏
方东明
陈德勇
李男男
董桃云
展明浩
张晓升
闾新明
陈立国

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