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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国科学院空天信息创新研究院 、中机生产力促进中心有限公司 、北京京东方传感技术有限公司 、华东光电集成器件研究所 、中国科学院上海微系统与信息技术研究所 、北京智芯微电子科技有限公司 、东南大学 、中国航天时代电子有限公司 、中船九江精密测试技术研究所 、无锡华润上华科技有限公司 、上海新微技术研发中心有限公司 、安徽芯动联科微系统股份有限公司 、电子科技大学 、浙江大学 、中国电子科技集团公司第五十五研究所 、芯联集成电路制造股份有限公司 、昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司 、天津新智感知科技有限公司 、复远芯(上海)科技有限公司 。

主要起草人 王军波 、鲁毓岚 、李根梓 、车春城 、凤瑞 、魏秋旭 、谢波 、王鹏 、钟艳红 、李铁 、方东明 、陈德勇 、周再发 、陈婷 、李男男 、董桃云 、夏长奉 、吴炫烨 、展明浩 、张晓升 、董树荣 、朱健 、闾新明 、陈立国 、陈得民 、陈旭远 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 47768-2026 即将实施

微机电系统(MEMS)技术 玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法

基础信息

标准号
GB/T 47768-2026
发布日期
2026-07-02
实施日期
2027-02-01
标准计划
20240911-T-469
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-27:2017。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第27部分:玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法。

起草单位

起草人

王军波
鲁毓岚
凤瑞
魏秋旭
钟艳红
李铁
周再发
陈婷
夏长奉
吴炫烨
董树荣
朱健
陈得民
陈旭远
李根梓
车春城
谢波
王鹏
方东明
陈德勇
李男男
董桃云
展明浩
张晓升
闾新明
陈立国

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