国家标准《微机电系统（MEMS）技术 柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法》 由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）、全国集成电路标准化技术委员会联合归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 无锡小天鹅电器有限公司 、长虹美菱股份有限公司 、中机生产力促进中心有限公司 、宁波科联电子有限公司 、合肥华凌股份有限公司 、中北大学 、海信家电集团股份有限公司 、广州自平测控科技有限公司 、西北工业大学 、苏州大学 、苏州感闻安全科技有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、无锡华润上华科技有限公司 、成都航天凯特机电科技有限公司 、东南大学 、中国电力科学研究院有限公司 、北京大学 、四川长虹虹微科技有限公司 、美的集团（上海）有限公司 、无锡吴越物芯科技有限公司 。

主要起草人 张革 、杨浩 、李根梓 、王雄伟 、余燕 、王俊强 、马卓标 、曲倩雯 、王科 、孙旭辉 、王春举 、冯军 、方东明 、夏长奉 、蒋礼平 、周再发 、梁先锋 、郑雨晴 、周刚 、钱峰 、董接莲 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62047-43:2024。

采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第43部分：柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法。