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国家标准《微机电系统(MEMS)技术 微机电固态材料线性热膨胀系数测试方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 北京晨晶电子有限公司中机生产力促进中心有限公司芯联集成电路制造股份有限公司上海无线电设备研究所中电科芯片技术(集团)有限公司无锡华润上华科技有限公司电子科技大学浙江舜辉光学科技有限公司中国航天时代电子有限公司北京智芯微电子科技有限公司东南大学中国科学院重庆绿色智能技术研究院西安现代控制技术研究所左蓝微(江苏)电子技术有限公司上海新微技术研发中心有限公司宁波中车时代传感技术有限公司浙江大学北京大学南昌创新研究院无锡华润上华科技有限公司昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司深圳市英唐智能控制股份有限公司

主要起草人 汤一李根梓闾新明贺伟炜周哲夏长奉孙圣张晓升宋云峰宋健民要彦清方东明周再发王金玉刘奎张树民娄亮王冲侯晓伟董树荣张舒楠陈得民张森陈立国江丽娟

目录

标准状态

当前标准

GB/T 47749-2026 即将实施

微机电系统(MEMS)技术 微机电固态材料线性热膨胀系数测试方法

基础信息

标准号
GB/T 47749-2026
发布日期
2026-07-02
实施日期
2026-11-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62047-11:2013。

采标中文名称:半导体器件微机电系统第11部分:微机电系统中无需支撑物材料线性热膨胀系数试验方法。

起草单位

起草人

汤一
李根梓
周哲
夏长奉
宋云峰
宋健民
周再发
王金玉
娄亮
王冲
张舒楠
陈得民
江丽娟
闾新明
贺伟炜
孙圣
张晓升
要彦清
方东明
刘奎
张树民
侯晓伟
董树荣
张森
陈立国

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