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国家标准《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 上海复旦微电子集团股份有限公司复旦大学之江实验室中国电子科技集团公司第十三研究所

主要起草人 沈磊孙建军俞剑刘山佳王明时拓崔波陈海蓉张丽静

目录

标准状态

当前标准

GB/T 47239.8-2026 即将实施

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

基础信息

标准号
GB/T 47239.8-2026
发布日期
2026-02-27
实施日期
2026-09-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62951-8:2023。

采标中文名称:半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法。

起草单位

起草人

沈磊
孙建军
王明
时拓
张丽静
俞剑
刘山佳
崔波
陈海蓉

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