国家标准计划《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 、中国电子技术标准化研究院 、浙江清华柔性电子技术研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、广东南海启明光大科技有限公司 、江苏纳美达光电科技有限公司 、深圳意杰新技术有限公司 、中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院 、浙江骐盛电子有限公司 、昆山一鼎工业科技有限公司 、爱利彼半导体设备(上海)有限公司 。
主要起草人 高杨 、佘茜玮 、赵先恒 、薛爱杰 、周廷宝 、薛春宝 、闫美存 、何志峰 、杨晓峰 、牛皓 、赵昊 、黄良辉 、刘腾蛟 、宫立霞 、王振 、唐宗飘 、周爱和 、肖学才 。
20230662-T-339 正在批准
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.99 其他半导体分立器件 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62951-6:2019。
采标中文名称:半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄膜电阻测试方法。