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国家标准计划《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所中国电子技术标准化研究院浙江清华柔性电子技术研究院工业和信息化部电子第五研究所广东南海启明光大科技有限公司江苏纳美达光电科技有限公司深圳意杰新技术有限公司中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院浙江骐盛电子有限公司昆山一鼎工业科技有限公司爱利彼半导体设备(上海)有限公司

主要起草人 高杨佘茜玮赵先恒薛爱杰周廷宝薛春宝闫美存何志峰杨晓峰牛皓赵昊黄良辉刘腾蛟宫立霞王振唐宗飘周爱和肖学才

目录

项目进度

当前标准计划

20230662-T-339 正在批准

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法

基础信息

计划号
20230662-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2023-08-06
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

高杨
佘茜玮
周廷宝
薛春宝
杨晓峰
牛皓
刘腾蛟
宫立霞
周爱和
肖学才
赵先恒
薛爱杰
闫美存
何志峰
赵昊
黄良辉
王振
唐宗飘

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62951-6:2019。

采标中文名称:半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分:柔性导电薄膜的薄膜电阻测试方法。

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