国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 。
主要起草人 佘茜玮 、包雷 、吴维丽 、王瑞曾 、陈雷 、胡宁 。
GB/T 4937.33-2025 即将实施
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-33:2004。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮。