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国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 硅通孔三维结构可靠性评价要求》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所中机生产力促进中心有限公司工业和信息化部电子第五研究所上海航天技术基础研究所浙江大学厦门大学西北工业大学杭州电子科技大学宁波中车时代传感技术有限公司无锡华润上华科技有限公司清华大学武汉大学中国科学院微电子研究所中国航天时代电子有限公司上海交通大学左蓝微(江苏)电子技术有限公司联合微电子中心有限责任公司东莞理工学院深圳新声半导体有限公司深圳市英唐智能控制股份有限公司山东国创微纳制造研究院有限公司

主要起草人 朱健李根梓黄旼郁元卫吴静张笑天崔荣吴维丽陈思杜林董树荣马盛林关赫轩伟鹏侯晓伟胡永刚赵嘉昊陈志文焦斌斌李男男吴林晟张树民崔伟陈豪翔邹洁江丽娟张南

目录

项目进度

当前标准计划

20241868-T-469 正在批准

微机电系统(MEMS)技术 硅通孔三维结构可靠性评价要求

基础信息

计划号
20241868-T-469
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2024-06-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
副归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

朱健
李根梓
吴静
张笑天
陈思
杜林
关赫
轩伟鹏
赵嘉昊
陈志文
吴林晟
张树民
邹洁
江丽娟
黄旼
郁元卫
崔荣
吴维丽
董树荣
马盛林
侯晓伟
胡永刚
焦斌斌
李男男
崔伟
陈豪翔
张南

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