国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。
主要起草人 裴选 、赵海龙 、彭浩 、尹丽晶 。
GB/T 4937.35-2024 现行
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-35:2006。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查。