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国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 河北北芯半导体科技有限公司合肥科微芯测科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第十三研究所河北科技大学中国科学院微电子研究所西安电子科技大学天津大学中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区吉林华微电子股份有限公司吉林麦吉柯半导体有限公司北京芯可鉴科技有限公司吉林江机特种工业有限公司江苏长晶科技股份有限公司重庆平伟实业股份有限公司杭州远方电磁兼容技术有限公司迅芯微电子(苏州)股份有限公司湖南中南鸿思自动化科技有限公司广东众志检测仪器有限公司佛山市通科电子有限公司合肥沛顿存储科技有限公司日照鲁光电子科技有限公司芯百特微电子(无锡)有限公司广东科信电子有限公司珠海诚锋电子科技有限公司广州盛中电子有限公司先之科半导体科技(东莞)有限公司上海源悦汽车电子股份有限公司

主要起草人 张涛赵宇洋许中广迟雷吴小帅王宇涛桂明洋王冲郑雪峰王超孙宏军杨洁贾林陈亚洲胡小锋陈龙坡焦龙飞安伟周晓黎张崇彭浩席善斌胡松祥陈昱宇张宇航陈浩祥邵伟恒孙锴李博常江杨寿国单书珊尹丽晶李延林孙哲雷胡敏杨国江刘健于胜东张晋尘李斌晖李述洲谷亚敏张文华刘芳涂辛雅姜明宝武锦李兴哲钟剑锋黄初期何洪文朱礼贵张海涛柯佳键张腾徐兴华骆宗友张鹏程

目录

项目进度

当前标准计划

20231876-T-339 正在批准

半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级

基础信息

计划号
20231876-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2023-12-28
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

张涛
赵宇洋
吴小帅
王宇涛
郑雪峰
王超
贾林
陈亚洲
焦龙飞
安伟
彭浩
席善斌
张宇航
陈浩祥
李博
常江
尹丽晶
李延林
杨国江
刘健
李斌晖
李述洲
刘芳
涂辛雅
李兴哲
钟剑锋
朱礼贵
张海涛
徐兴华
骆宗友
许中广
迟雷
桂明洋
王冲
孙宏军
杨洁
胡小锋
陈龙坡
周晓黎
张崇
胡松祥
陈昱宇
邵伟恒
孙锴
杨寿国
单书珊
孙哲
雷胡敏
于胜东
张晋尘
谷亚敏
张文华
姜明宝
武锦
黄初期
何洪文
柯佳键
张腾
张鹏程

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-28:2022。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级。

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