国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中电国基北方有限公司 、河北北芯半导体科技有限公司 、工业和信息化部电子第五研究所 。
20231876-T-339 正在审查
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-28:2022。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 充电模型(CDM) 器件级。